| YB3117/YB3118 |
| 测试种类 | 可测试TTL、CMOS、GAL、RAM、EPROM、CPU及可编程器件 |
| 显示方式 | 图形显示(时序显示)、状态显示 |
| 被测芯片脚数 | 100脚以下 |
| 最大输出电流 | 每引脚100mA |
| 测试速度 | 500kHz/Pin |
| 中文Windows操作平台 | |
| 开放式自建芯片的数据库 | |
| V-1特性曲线测试 | |
| 工作温度 | 0°C~30°C |
| 工作湿度 | 75% |
| 功耗 | 约45W(不包括供待测板的功耗) |
| 工作电压 | 220V±10% |
| YB3117配台式电脑 | YB3118配笔记本电脑 |
| 外形尺寸 | 90H×350W×350D(mm) |
| 质量 | 约4.7kg |