SE400adv多角度激光椭偏仪

SE400adv多角度激光椭偏仪激光椭偏仪SE 400advanced 

　　多角度激光椭偏仪 SE400advanced使用632.8nm波长HeNe激光器，对测量薄膜厚度，折射率和吸收系数有非常出色的精度。 SE400advanced能够分析单层膜，多层膜和大块材料（基底） 
? 超高精度和稳定性，来源于高稳定激光光源、温度稳定补偿器设置、起偏器跟踪和超低噪声探测器 
? 高精度样品校准，使用光学自动对准镜和显微镜 
? 快速简易测量，可选择不同的应用模型和入射角度 
? 多角度测量，可完全支持复杂应用和精确厚度 
? 全面的预设应用，包含微电子、光电、磁存储、生命科学等领域 

规格: 
? 激光波长632.8 nm 
? 150 mm (z-tilt) 载物台 
? 入射角度可调，步进5o 
? 自动对准镜/显微镜，用于样品校准 
? Small footprint 
? 以太网接口连接到PC 

SE 400advanced软件特征: 
? 预先定义应用 
? 多角度测量 
? 广泛的材料数据库 
? 拟合状况的图形反馈 
? 支持多种语言 
　　SE400advanced被设计用来将椭偏仪的测量能力发挥到极限，高稳定相位补偿器，电脑控制稳定频率旋转分析器 ，自动调整起偏器，The core concept of the SE400advanced with highly phase stabilized compensator, computer controlled frequency stabilized rotating analyzer and automated polarizer optimum positioning allows for the measurement of ultra thin films and surface roughness on almost any kind of absorbing or transparent substrate with a flat, mirror - like surface.