SENPROUV/VIS/NIR光谱椭偏仪低价位光谱椭偏仪,用于在UV/VIS / NIR光谱范围测量薄膜厚度及其折射率
SenPro椭偏仪是新一代低价位光谱椭偏仪,以快速测量、使用简易和对样品操作为特性。
SenPro能够测量单层薄膜的厚度和折射率。
规格
光谱范围 | 250 nm ... 900 nm |
测量时间 | 单点测量时间40 μs, 全光谱测量时间20 ms |
可变入射角度 | 45, 50, 55, 60, 65, 70, 90 deg |
载物台 | 可调节高度和倾斜度的载物台,手动25 mm x-y 方向移动 |
光源 | Xe弧光灯 |
分光计 | 扫描式单色仪 |
软件 | 光谱椭偏仪软件,支持测量、建模、拟合椭偏光谱,材料库,protocol功能,输出数据 |
计算机 | USB 接口连接 PC,包含PC、WindowsXP操作系统 |
电源需求 | 115/ 230 V, 50 / 60 Hz |
尺寸 | 850 mm x 400 mm x 300 mm |
重量 | 35 kg |