产品描述：
Cement-3000水泥分析仪
工作原理：
X光管产生的X射线与样品中元素的原子相互作用，逐出原子内层电子，当外层电子补充内层电子时，会放出该原子所固有能量的X射线，称之为特征X射线（X荧光）。各种元素的原子受激发后，在退激过程中放出的特征X射线能量各不相同，例如铁的特征X射线（FeKα）能量为6.4KeV,铜的特征X射线(CuKα)能量为8.0KeV等等,依次可进行定性分析。在一定条件下，特征X射线的强度与元素含量（品位）成正比，依此可进行定量分析。
对于半无限大空间饱和厚度，并且表面均匀的样品，当二次荧光可以忽略时，目标元素的特征X射线强度（IK）可以用下式表示：
IK=KI0Ck/(μ0/sinφ+μK/sinψ)
式中：K为与探测器的激发效率有关的常数；I0为入射射线强度；Ck 为目标元素的含量；μ0为入射射线在样品中的质量吸收系数；μK 为特征X射线在样品中的质量吸收系数；φ为入射射线与样品表面间的夹角；ψ为特征射线与样品表面间的夹角。
产品配置：
采用进口的美国AMPTEK航天技术的SI（PIN）半导体探测器系列
采用独特专利数字脉冲采集电路及专利的电源管理技术
采用特制的X光管
采用专用的X射线高压发生器
采用RS232串口通讯系统
采用精密的系统控制电路和数字处理电路
采用专有的分析算法软件模块
配备品牌电脑
配备品牌打印机
配备常用的制样工具
配备专用的压片机
配备专用的真空系统
配备专用的测试标样
特点：
主机采用数字化面板设计，管流、管压、样品位置、真空度等参数面板直接显示，可以根据分析元素种类不同，软件自动调整参数。
采用X光管激发样品，一次激发全部待测元素，韧致辐射型，Be(铍)窗厚200μm，靶材Rh(铑靶)。真空环境测量，提高了轻元素的激发效率和测量范围。
采用进口高能量分辨率的电致冷Si-PIN半导体探测器，无需液氮制冷，使用方便。探测器分辨率优于160eV(55Fe)。
样品种类：固体、粉末、液体均可，如压片无需添加任何试剂。
腔内多样品座：一次可以放置12个样品，自动控制，精确定位。
1024道多道谱仪实时测量显示，对样品X光谱进行精细分析，系统可自动识别谱线，方便地了解样品的组成。
可一次性实现多元素的快速、无损、准确分析。
全中文Windows应用软件，操作简单。
软件优势：WinXP界面应用软件，全中文操作系统操作。
软件数据库功能强大，谱数据显示、谱峰标记、能量定标、净强度、预置时间等。
所有参数通过软件调节，数码管自动显示，无需手动调节面板。
谱处理、扣除背景、元素识别、剥离重叠谱自动进行。
谱峰重叠时，软件可以解谱。
软件自动稳谱，消除环境变化影响。
技术指标：
分析元素范围：Mg-U（主要是：Al、Si、P、S、Ca、Fe、Mn、Pb、Zn、Cu、Sn等）；
元素含量分析范围：10ppm -99.9%（采用1024道多道分析器，分析精度更高）；
采用美国航天技术的Si (PIN)半导体探测器计数，配合专利的数字脉冲处理技术；
测量范围：1－30KeV；
重复性：<0.1%；
稳定性：<0.01%；
管压：0kV-30kV（采用 特制的X射线管）；
管流：5μA-200μA；（可减少整机功耗和降低辐射）；
辐射剂量：<25μsv/h；
检测时间： <200S；
工作环境温度：温度0-40℃；
测量物质状态：固体、粉末均可检测，制样简单；
一体化设计，性能稳定，运行可靠，性价比高；操作简单，测量时间短。
应用领域：
适用于水泥、矿山、选矿、冶炼等企业在生产过程中对产品质量进行监测；
技术参数：
本月特价
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