XRF-1500/1700系列X射线荧光光谱仪是在世界上首先开发出微区分析/分布分析功能，并率先采用了4KW薄窗X射线管，扩大了X射线荧光分析的应用领域，作为具有革命性的仪器而得到了很高评价。

XRF-1800从仪器的硬件与软件在许多细节都进行了改进，使得仪器的可靠性与可操作性更进一步提高，增加了世界首创的250μm微区分布成像分析功能，从而达到更高水平的完美程度。作为高灵敏度和微区分析的开拓者，本公司非常自信地向用户奉献出卓越的XRF-1800型X射线荧光光谱仪。

• 在波长色散型装置中，世界首创250μm微区分布成像分析功能（已取得专利）
  可分析不均匀样品的含量分布、强度分布。

• 利用高次谱线进行准确的定性/定量分析（专利申请中）
  高次谱线的判定更加准确，提高了定性定量分析的准确度/可靠性。

• 测定高分子薄膜的膜厚与无机成分分析的背景基本参数(BG-FP)法
  利用康普顿散射/瑞利散射的强度比计算出荧光X射线分析不能得到的氢（H）元素的信息。高分子薄膜分析中，利用康普顿散射线的理论强度作为高分子薄膜的信息。

• 微区分析结构
  独自开发的特殊形状的滑动式视野限制光栏，利用r方向滑动与样品旋转控制的q转动，可以在30mm直径内的任意位置进行分析。

• 利用CCD相机可以直接观察样品（选配件）
  在测定室导入样品的位置上，将样品容器按照与测定位置相同的方式放置，通过CCD摄取样品的图像，可使测定位置与图像相吻合。（专利申请中）

• 配备高可靠性、长寿命的4kW薄窗Ｘ射线管
  配备平均寿命在5年以上的高可靠性Ｘ射线管。与传统的3kWＸ射线管相比，轻元素的分析灵敏度提高2倍以上。

• 集成岛津技能精华的模块功能,匹配分析功能
  对应于液体、粉末、固体、金属、氧化物等不同形态的样品具有相应的分析条件，在这基础上可编制最佳的分析条件。可根据不同材质判定、品种分类、品种判定、一致性检索这4种匹配功能进行判定、检索。