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| 涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042可定制带系统的涂层测厚 |
| 涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042 利用磁感应法（DIN EN ISO 2178）测量铁磁基体上的非铁磁层的厚度并且利用涡流法（DIN EN ISO 2360）测量非铁磁材料上覆盖的非导电层厚度。 |
| 仪器将一种把测厚值显示为模拟指针的工具和近似WINDOWS一样的文件管理系统相结合，同时提供10种可供任意选择的语言，以满足客户的各种需求。 涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042是一种经济的产品，电池寿命长，可以连续工作100小时以上。仪器记录工作时间和测量数量，因此一些重要的参数可以被保存。 彩色的橡胶皮套也是在供货范围内，可以保护仪器在工业环境中意外滑落不受损害。 |
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| 德国卡尔德意志涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042特点概述 |
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| LEPTOSKOP 2042 带有45°微型探头 | * 取决于配置级别 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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| 涂层测厚仪LEPTOSKOP20423种配置级别以更好的完成测量人任务 |
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| LEPTOSKOP 2042 有3种配置级别 |
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基本型 – 证明质量的基本特征 |
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高级型 - 附加统计评估 |
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专业型 - 统计评估和数据存储 |
| 如果针对新的测量要求，而需要仪器增加新的功能，可以在任何时候把仪器升级为高级型和/或专业型。升级只需在现场输入解锁代码，“统计”和/或“统计& 数据存储”，便可完成；而不需要把仪器反厂或重新购买新机器。
这里有操作指南和制定模块的参考说明。 |
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| 举例：仪器上的用户界面图像 |
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| 选择菜单项目（例如：语言清单） | ||||||
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| 清晰的统计读数值和当前测量值 | ||||||||||||||||||
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| 电脑读数也被存储在目录和文件中 | ||||||||
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 多样的探头 |
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| 多样的外部探头使LEPTOSKOP 2042在困难的条件下，更容易地测量复杂几何图形上的特殊涂层厚度。涂层厚度是20mm 也是可以的。根据需求，我们也可以订做特殊探头。 |
| 探头类型 | 测量方法 | 测量范围 | 订货号 | |
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标准探头Fe 0?br> 用于在宽阔的、容易测量的地方 | Fe | 0 - 3000 祄 | 2442.100 |
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标准探头 NFe 0?/font> | NFe | 0 - 1000 祄 | 2442.130 |
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标准探头 NFe S 0?/font> | NFe | 0 - 3750 祄 | 2442.140 |
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标准探头 Fe S 0?br>用于测量表面有宽阔的涂层厚度 | Fe | 0.5 - 20 mm | 2442.120 |
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标准探头 Fe 90?br>用于测量难接近的部位，例如：管子的内部 | Fe | 0 - 3000 祄 | 2442.110 |
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双晶探头用于测量表面有宽阔的涂层例如：管子的内部涂层. | Fe | 0.5 - 12.5 mm | 2442.200 |
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微型探头0?用于测量小尺寸和难接近的部位例如：钻孔的底部 | FeNFe | 0 - 500 祄 | 2442.300 2442.310 |
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微型探头 45?用于测量小尺寸和难接近的部位 | FeNFe | 0 - 500 祄 | 2442.320 2442.330 |
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微型探头 90?用于测量小尺寸和难接近的部位例如：管子的内壁和钻孔 | FeNFe | 0 - 500 祄 | 2442.340 2442.350 |
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| 注：点击单独的探头图片，可以得到更多详细信息 |
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| 技术资料 |
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数据传输接口RS232 或 USB |
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电源：电池、充电电池、USB或外接电源 |
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测量范围: 0 - 20000 um (取决于探头) |
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测量速度: 每秒测量２个数值 |
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存储: 最多 9999 个数值，140个文件 |
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误差: 涂层厚度 < 100 祄: 1 % 的数值 +/- 1 祄 (校准后) 涂层厚度 > 100 祄: 1..3 % 的数值 +/- 1 祄 涂层厚度 > 1000 祄: 3..5 % 的数值 +/- 10 祄 涂层厚度 > 10000 祄: 5 % 的数值 +/- 100 祄 |
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| 附件 |
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试块和膜片 |
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探头定位装置 (适用于微型探头) |
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定位辅助装置 (适用于微型探头) |
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电脑软件 STATWIN 2002 用于数据传输和对整个目录结构的便捷管理 |
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电脑软件 EasyExport 用于把单独的杜说或全部文件传输到Windows 程序里 |
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出厂时已校准，立即可用
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