对材料表面起保护，装饰作用的覆盖层，如涂层，镀层，敷层，贴层，化学生成膜等，在一些国家和国际标准中称为覆层（coating）。

覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对覆层厚度有了明确要求。

覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。

X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有放射源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用最广泛的测厚仪器。

采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材，检测速度快，能使大量的检测工作经济地进行。

一． 磁吸力测量原理及测厚仪

永久磁铁（测头）与导磁钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系，这个距离就是覆层的厚度。利用这一原理制成测厚仪，只要覆层与基材的导磁率之差足够大，就可进行测量。鉴于大多数工业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成型，所以磁性测厚仪应用最广。测厚仪基本结构由磁钢，接力簧，标尺及自停机构组成。磁钢与被测物吸合后，将测量簧在其后逐渐拉长，拉力逐渐增大。当拉力刚好大于吸力，磁钢脱离的一瞬间记录下拉力的大小即可获得覆层厚度。新型的产品可以自动完成这一记录过程。不同的型号有不同的量程与适用场合。

这种仪器的特点是操作简便、坚固耐用、不用电源，测量前无须校准，价格也较低，很适合车间做现场质量控制。

二． 磁感应测量原理

采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪，原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性，则要求与基材的导磁率之差足够大（如钢上镀镍）。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时，仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头，测量感应电动势的大小，仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术，利用磁阻来调制测量信号。还采用专利设计的集成电路，引入微机，使测量精度和重现性有了大幅度的提高（几乎达一个数量级）。现代的磁感应测厚仪，分辨率达磁感应测厚仪_电涡流测量原理_磁吸力测量原理及测厚仪_电涡流原理的测厚仪到0.1um，允许误差达1%，量程达10mm。

磁性原理测厚仪可应用来精确测量钢铁表面的油漆层，瓷、搪瓷防护层，塑料、橡胶覆层，包括镍铬在内的各种有色金属电镀层，以及化工石油待业的各种防腐涂层。

三． 电涡流测量原理

高频交流信号在测头线圈中产生电磁场，测头靠近导体时，就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小，也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头专门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度，所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯，例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较，主要区别是测头不同，信号的频率不同，信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪一样，涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um，允许误差1%，量程10mm的高水平。

采用电涡流原理的测厚仪，原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量，如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆，塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性，通过校准同样也可测量，但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍（如铜上镀铬）。虽然钢铁基体亦为导电体，但这类任务还是采用磁性原理测量较为合适.

四、塑胶产品上涂层厚度的测量问题

1．用转移法测量塑胶产品上涂层时的注意事项

对塑胶产品上涂层的测量。如使用超声波发测量时，经常因涂层与基材发生相溶而没有较好的声波反射面，从而导致测量失败或读值严重偏差。如使用切锲法，也多有使用不方便和读数困难的地方。

所以目前便携式电子产品生产厂普遍使用转移法测量塑胶产品上涂层。

我们经过多年实践，推荐先在产品上盖若干小条标准厚度的聚酯薄膜（50微米左右，我公司有专门定制供应），再用纸基美纹胶带压住两头，留出中间部分。将该产品放入喷涂线上正常喷涂、烘烤。

产品完工后，取下留有漆膜的聚酯薄膜，用铁零板（或铝零板）做基板用磁感应（或电涡流法）膜厚仪分别测量有涂层的部分和无涂层的部分，两者之差就是涂层厚度。由于采用同一块零板，所以电磁感应参考点不会发生变化，从而保证了测量基准不变，保证了测量的准确。另外，特别是因采用了差别法，所以仪器和零板的误差都会因相减而抵消。这样就大大降低了对零板和仪器精度的要求。

也有部分工厂仍采用粘贴铁片和铝片的方法，需要注意的是每块铁片或铝片表面粗糙度不同、凸凹变形、厚薄变化等会造成电磁感应参考点发生变化，这样可能会造成测量误差加大和重复性较差。需要注意避免。

2．涂层厚度测量的其他问题

a. 涂层烘烤固化后，还有一个继续固化的缓慢过程，因条件限制, 工厂一般取下产品后就会测量。如过一两天后再测，往往厚度会少1~3微米。

b. 至于切片法测厚，制备切片则非常重要。由于基材和涂层都较软，切割变形可能造成涂层向基材方向或基材向涂层方向挤压侵占，从而造成读数偏大或偏小。

另外油漆喷涂过程是液态点状溅射至基材后，经流平、交联、成膜固化。断面一定是表面有起伏状态，外观上看则呈现出桔皮现象。转移法测厚是在平面上随机取点，或再取平均数，切片法是在切割处的一条直线断面上显微目视读数。两者因取点方法不同、位置不同，两者读数会有不同。但两者有互相参考价值，可分析对比找出原因

使用测厚仪与使用其他仪器一样，既要掌握仪器性能，也需了解测试条件。使用磁性原理和涡流原理的覆层测厚仪都是基于被测基体的电、磁特性及与探头的距离来测量覆层厚度的，所以，被测基体的电磁物理特性与物理尺寸都要影响磁通与电涡流的大小。即影响到测量值的可靠性，下面就这方面的问题作一下介绍。

1. 边界间距

     如果探头与被测体边界、孔眼、空腔、其他截面变化处的间距小于规定的边界间距，由于磁通或涡流载体截面不够将导致测量误差。如必须测量该点的覆层厚度，只有预先在相同条件的无覆层表面进行校准，才能测量。（注：最新的产品有透过覆层校准的独特功能可达3～10%的精度）

2. 基体表面曲率

     在一个平直的对比试样上校准好一个初始值，然后在测量覆层厚度后减去这个初始值。或参照下条。

3. 基体金属最小厚度

     基体金属必须有一个给定的最小厚度，使探头的电磁场能完全包容在基体金属中，最小厚度与测量器的性能及金属基体的性质有关，在这个厚度之上刚好可以进行测量而不用对测量值修正。对于基体厚度不够而产生的影响，可以采取在基材下面紧贴一块相同材料的措施予以消除。如难以决断，或无法加基材则可以通过与已知覆层厚度的试样进行对比来确定与额定值的差值。并且在测量中考虑这点而对测量值作相应的修正或参考第2条修正。而那些可以标定的仪器通过调整旋钮或按键，便可以得到准确的直读厚度值。反之利用厚度太小产生的影响又可以研制直接测铜箔厚度的测厚仪，如前所述。

4. 表面粗糙度和表面清洁度

     在粗糙度表面上为获得一个有代表性的平均测量值必须进行多次测量才行。显而易见，不论是基体或是覆层，越粗糙，测量值越不可靠。为获得可靠的数据，基体的平均粗糙度Ra应小于覆层厚度的5%。而对于表面杂质，则应予去除。有的仪表上下限，以剔除那些“飞点”。

5. 探头测量时的作用力

     探头测量时的作用力应是恒定的。并应尽可能小，才不致使软的覆层发生形变，以致测量值下降或产生大的波动。必要时，可在两者之间垫一层不导电的、一定厚度的硬性薄膜。这样通过减去薄膜厚度就能适当地得到剩磁。

6. 外界恒磁场、电磁场和基体剩磁

     应该避免在有干扰作用的外界磁场附近进行测量。残存的剩磁，根据检测器的性能可能导致或多或少的测量误差，但是如结构钢，深冲成形钢板等一般不会出现上述现象。

7. 覆层材料中的铁磁成份和导电成份