在快速变迁的市场环境下，设备性能不断挑战着ATE系统功能的极限，测试设备的淘汰速度加快，测试成本也随之增加，因而需要与日益严苛的性能需求保持同步。 成本效益是NI吸引半导体测试客户的最大亮点，NI基于PXI的半导体测试系统(STS)通过在半导体生产测试环境中引入NI和工业标准的PXI模块降低了射频和混合信号设备的测试成本。与传统半导体自动化测试设备(ATE)相比，NI STS前沿用户正在获益于降低的生产成本和提高的吞吐量，并且可使用相同的硬件和软件工具中进行特征性测试和生产。特别是对于混合信号测试，基于PXI的 NI STS相比传统ATE，以非常低的成本提供了最佳测试覆盖率。

　　半导体测试ATE是整个测试系统中最为精密的一个环节，也是最具市场价值的测试应用领域之一，相比于几万块钱规模的自动化测试系统，动辄百万的半导体测试ATE从技术上就限制了很多玩家的进入。当然，庞大的系统有自己固有的问题，就是设备的使用成本过于昂贵，基于这样的需求，NI的PXI技术寻找了市场的切入点技术找到了市场的切入点。

　　NI STS的开放模块化架构使得工程师能够使用最前沿的PXI仪器，这是采用传统具有封闭结构的ATE无法实现的。这对于RF和混合信号测试尤其重要，因为最新半导体技术要求的测试覆盖率往往超越了传统ATE所能提供的。NI STS结合了TestStand测试管理软件和labview系统设计软件，具有一组针对半导体生产环境的丰富功能，包括可定制的操作界面、分选机/探针集成、具有引脚-通道映射且以设备为中心的编程、标准测试数据格式(STDF)报告以及集成式多点支持。

　　NI半导体测试系统(STS)的开放式PXI架构提供了客户所需的灵活性，借助该架构，客户能够重新配置和扩展测试平台来满足不断提高的性能需求，而且可以沿用原有的投资设备，而不需要像传统ATE系统那样，除了得淘汰旧设备之外除了需要淘汰旧设备之外，随着测试系统持续改良，通常还需要高成本、大规模的测试车间重新启动作业。 IDT定时业务部门的测试演变正好成为这一产品应用的典型案例。 一开始IDT使用昂贵的现成ATE系统。 很快便发现这么做的成本太高，所以IDT决定自行开发测试系统。 但是这又面临新的问题，那就是硬件的淘汰率很高，而每次硬件的更新都需要重新设计整个系统，他们内部支持团队的人力支持也非常有限。最理想的解决方案就是开发或寻找一种基于开放式架构的测试平台，可以让用户继续利用测试装置，以原有的投资为基础开发所需的系统，而非外加新功能，或是重新购买昂贵的大型 ATE系统。 IDT需要的架构必须能够应对硬件淘汰的问题，而且还可以随着技术的发展重新开发。 NI STS正好就是这种架构。NI STS的PXI平台非常适合解决上述问题。 该系统在单个测试主机内容纳了多个PXI 机箱，提供了扩展功能，使得用户可在测试仪内部添加更强大的测试功能。 灵活的PXI开放式标准可以让用户根据需求选择不同厂商的仪器，而不必受限于单个ATE硬件厂商所提供的有限产品。