阻抗分析仪IM3570性能特点
阻抗分析仪IM3570特点 1.不同测量条件下,1台进行高速测量 测量电容等零部件时,有时在不同条件下(频率、电平)测量多种测量项目,1条生产线中需要多台测量仪器。IM3570可再不同测量条件下进行高速连续测量,1台仪器即可满足所有要求。 2. 检查速度提高了2倍(跟以往型号相比) 和HIOKI的以往型号(3532-50)相比,大大缩短了测量时间。LCR模式下,以往机型一般需要5ms的测量时间,而IM3570的检查速度提高了2倍。需要全数检查电子零部件的生产线中,IM3570发挥了作用。
3. 测量的反复精度提高了1位(※1mΩ,100次测量时) 功能性高分子电容在推进低ESR化的同时,要求正确测量多个mΩ。IM3570在测量低阻抗时的精度比以往机型提高了1位,因此为用户提供稳定测量。
4. 广范围的测量频率 IM3570可在DC和4Hz~5Hz的范围内设置5位分辨率的频带(1kHz以下为0.01Hz分辨率)。可在接近共振频率的测量和工作条件的状态下进行测量和评价。
5. 15种测量参数 可测量Z、Y等15种参数,并将需要的参数读取至计算机中。 6. 具备防止误操作的接触检查功能 装载了4端子测量、2端子测量的接触检查功能。防止在测量电极不接触被测物的状态下测量的情况,因此可以避免出现未检查的产品出厂。
7. 广范围的测量电压/电流 外加一般的开路信号发生,可在恒压/恒流模式下进行考虑到电压/电流依存性的测量。可设置广范围的、5mV~5V/10μA~50mA(~1MHz)以下的测量信号电平。
8. 测试线可延长至4m 4端子的构造可降低测试线的影响,测试线长达4m仍可保证精度。从而便于自动设备的配线。
阻抗分析仪IM3570技术参数
测量模式 |
LCR模式:单一条件下测量 分析仪模式: 根据测量频率、测量电平进行扫描 (测量点:1~801,扫描方法:一般扫描/分区扫描,显示:列表显示/图表显示) 连续测量模式: 连续测量保存的条件(最多32个) |
测量参数 |
Z、Y、θ、Rs(ESR)、Rp、Rdc(直流电阻)、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D(tanδ)、Q |
测量量程 |
100mΩ~100MΩ,12档量程(所有参数都根据Z来确定) |
基本精度 |
Z:±0.08%rdg. θ:±0.05° |
测量频率 |
4Hz~5MHz(10mHz~100Hz步进) |
测量信号电平 |
普通模式: V模式、CV模式:5mV~5Vrms(1MHz以下), 10mV~1Vrms(1MHz~5MHz),1mVrms步进 CC模式:10μA~50mArms(1MHz以下) 10μA~10mArms(1MHz~5MHz),10μArms步进 低阻抗高精度模式: V模式、CV模式:5mV~1Vrms(100kHz以下), 1mVrms步进 CC模式:10μA~100mArms(100kHz以下的100mΩ和1Ω量程), 10μArms步进 |
输出阻抗 |
普通模式:100Ω 低阻抗高精度模式:10Ω |
显示 |
彩色TFT5.7英寸,可设置显示开或关 |
显示位数设置 |
可设置3~7位的显示位数,初始值为6位 |
测量时间 |
0.5ms(100kHz、FAST、显示关,代表值) |
测量速度 |
FAST/MED/SLOW/SLOW2 |
DC偏压测量 |
普通模式:DC0V~2.50V(10mV步进) 低阻抗高精度模式:DC0V~1.00V(10mV步进) |
直流电阻测量 |
普通模式:测量信号电平 DC100mV~2.5V(10mV步进) 低阻抗高精度模式:测量信号电平 DC100mV~1.00V(10mV步进) |
比较器 |
LCR模式:第1、第3项目的Hi/IN/Lo 分析模式: 区域判断(各点的Hi/IN/Lo)、 峰值判断(极大、极小的频率和绝对值的Hi/IN/Lo) |
存储功能 |
主机可保存32000个数据 |
接口 |
EXT I/O(hler) RS-232C GP-IB USB(Hi-Speed/Full-Speed) U盘 LAN(10BASE-T/100BASE-TX) |
电源 |
AC90~264V,50/60Hz,最大150VA |
体积和质量 |
约330W×119H×307Dmm,约5.8kg | |