x荧光光谱仪Thick800性能特点
光谱 X荧光光谱仪Thick800介绍
X荧光光谱仪Thick800仪器简介:
THICK 800是我公司专门研发的镀层厚度测试仪。仪器能分析单镀层、双镀层、合金镀层等多种镀层类型的厚度,精确度达到0.01μm,同时镀层分析能力多达5层。THICK 800采用上照式设计,通过三维移动和激光定位,可实现对大件部件的镀层厚度和含量的无损、快速测定。
X荧光光谱仪Thick800应用领域:
镀层厚度测量 镀层和电镀液含量测定 电镀业 首饰加工
X荧光光谱仪Thick800配置:
正比计数盒探测器/电制冷Si-PIN探测器。 稳定X光管。 内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍以上。 针对不同样品选配合适准直器和滤光片。 二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。 双激光定位装置。 开放式样品腔。 玻璃屏蔽罩。 信号检测电子电路。 高低压电源。 任意多个可选择的分析和识别模型。 相互独立的基体效应校正模型。 多变量非线性回收程序。 智能镀层检测软件,与仪器硬件相得益彰。
X荧光光谱仪Thick800技术指标:
产品名称:Skyray X荧光光谱仪 型号:THICK 800 金属镀层检出限:0.01μm 同时镀层分析能力:5层 元素分析范围:从钾(K)到铀(U)。 多次测量重复性可达:0.01μm 长期工作稳定性为:0.1μm(5μm左右单镀层样品) 输入电压:220±5V/50HZ(建议配置交流净化稳压电源) 环境温度:15℃—30℃ 环境湿度:35%—70% 样品腔面积: 517 mm×352mm×150mm 外形尺寸:648mm×490mm×544mm 重量:65Kg |