产品描述：
霍梅尔-艾达米克 nanoscan 855
高精的粗糙度和轮廓测量设备
Nanoscan 855使用了高科技创新性的光机测量设备。
工件表面接触扫描的信号通过一个高精的机械测杆传递到光栅尺，然后再经过激光干涉的原理获得测量结果。这个创新性设计使nanoscan 855成为高精测量设备应用领域内的另一个选择。
同时高效的完成粗糙度和轮廓的测量
科技创新点
• 电子测臂可以根据每一个测量任务电子化自动地探测测臂，错误装载的情况将会被排除
• 电子测针保护装置（已申请专利）用电子速度限制器来防止测针刚性接触工件时发生的损伤
• 根据测尖的不同，电子测力的可调设置可以避免测量的错误和测尖的损伤
• 高精测臂可定位于小孔测量以及断面的自动测量
新的评估功能
• 粗糙度和轮廓的综合评价
粗糙度和轮廓可以被同时测量并显示在同一个评估报告中。基于大范围的测量行程以及可与零件做上下位置的测量，nanoscan 855是一款及其柔性设备。
• 上下位置的测量
复杂的测量任务常常需要上下两面的单向测量，这样的测量任务就可以装载一个双向测针完成，节省了测针的方向调整。它的一个扩展应用可以实现了内孔的直径以及内孔曲线的平行度和几何角度的分析。
• 大行程的形貌测量
形貌测量需要一个大范围的测量行程和高分辨率的Y轴（选配）
技术参数：
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