恒平仪器 754紫外可见分光光度计
型号 | 752 |
带宽 | 4nm |
波长范围 | 200~1000nm(步进间隔0.1nm) |
波长准确度 | ±2.0nm(开机自动校准) |
波长重现性 | 1.0nm |
测定范围 | T:0~125.0%T A:-0.097~2.70Abs F:0~1999 C:0~1999 |
透射比准确度 | ± 0.5%T (0~100%T) |
透射比重现性 | 0.2%T |
亮电流 | ≤0.5%T |
暗电流 | ≤0.2%T |
杂散光 | ≤0.5%T(在220,340nm处) |
恒平仪器 754紫外可见分光光度计技术参数
型号 | 754 |
带宽 | 4nm |
波长范围 | 190~1100nm(步进间隔0.1nm) |
波长准确度 | ±1.0nm(开机自动校准) |
波长重现性 | 0.5nm |
测定范围 | T:-0.1~200.0%T A:-0.5~3.000Abs F:0~9999 C:0~9999 |
透射比准确度 | ± 0.5%T |
透射比重现性 | 0.2%T |
亮电流 | ≤0.5%T |
暗电流 | ≤0.2%T |
杂散光 | ≤0.3%T(在220,340nm处) |
稳定性 | ±0.002A/h |