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光普 Ｘ荧光光谱仪EDX860D介绍
本仪器专门针对贵金属测试，可测试环形样品内壁及普通平面测试，具有以下特点：体积小巧，外型庄重大方，手动升降平台满足不同大小样品的测试，样品固定方便快捷，可方便更换准直器，准直器直径为1.5mm，可测试较小区域，下照式，大窗口正比计数盒保证计数率满足分析需要，宽阔样品腔可满足较大样品的测试，摄像头激光精确定位实现可视化定位，良好的射线屏蔽确保操作人员。
Ｘ荧光光谱仪EDX860D应用领域
首饰加工厂
金银珠宝首饰店
贵金属冶炼厂
质量检验部门
分析测试中心
典当行
XRF检测法与传统检测法比较
检测法 |
结果 |
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试金石法 |
主观性强，不科学，可靠性差 |
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比重法 |
参照物的纯度难以确定 |
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化学法 |
成本高，操作复杂，对样品有所损害 |
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XRF分析法 |
快速、无损、科学、稳定可靠 |
Ｘ荧光光谱仪EDX860D核心技术
1.大功率光管；
2. 超大窗口面积正比计数盒；
3. 外型小巧，庄重大方；
4. 宽阔样品腔，方便操作及测试较大样品；
5. 手动升降平台确保测试不同大小环状样品；
6．小准直器，利于测试样品小区域；
7. 摄像头与激光定位，可视地准确定位到被测点，测试时激光点自动关闭，利于拍摄清晰照片；
8. 良好的射线屏蔽确保操作人员的安全。
Ｘ荧光光谱仪EDX860D仪器技术指标：
分析含量一般为1ppm到99.9％；
任意多个可选择的分析和识别模型；
相互独立的基体效应校正模型；
多变量非线性回归程序；
多次测量重复性可达0.1％；
长期工作稳定性为0.1％。
电源：交流220V±5V；
测量时间：60-200S
管压：5-50KV
管流：50-1000μA
温度适应范围：15℃-30℃
Ｘ荧光光谱仪EDX860D标准配置：
正比计数盒；
50W X光管；
高压电源 50kV@1mA；
摄像头激光定位装置；
高灵敏度信号检测电子电路；
手动升降平台；
样品夹；
橡皮泥；
准直器直径为1.5 mm。
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