IST6500型存储器功能参数测试仪
IST6500型存储器功能参数测试仪在2NS基频下，提供四种方法自动测试存取时间 在2NS到160NS的各种器件（DRAM定时参数可编程提供1NS的基频）从而实现实时测试。
1、IST6500兼备有高速双通道阈值比较器的可编程动态加载，允许用户编程DUT输出口负载，以达到一个宽的工作范围。这一特性在SIMN器件测试钟尤其重要，因为后者须经常驱动，大容量小电阻的负载。
2、IST6500通过RS-232与PC机接口，器机械手接口具有“料箱排序”功能，可将器件按照选定的工作参数进行排序，这在工程元件特性或GO/NO GO测试中很具有典型意义。 IST6500易于编程，且存储有100个不同的用户自定义测试路径，提供了器件的各种工作参数包括存取时间，工作电流，备用电流，数据保持电流，输出负载，DUT电流源，定时参数，测试模式及逻辑阈值的自动引导测试或GO/NO GO测试，同时引导GO/NO GO 测试的参数的预置极限也可存储在程序里。
3、IST6500具备一系列完善的存储测试模式，并向用户提供短/长两种测试模式，它能在最短的时间内完成绝大多数RAM指标的检测。数据测试模式包括：全1，全0，方格噪声模式，步1，步0，列干扰，滑动斜行，移动倒置，这些模式能检测存储器芯片上及其他地址上的短路，开路或单值错误，也能检测芯片干扰，信号转换放大器干扰及噪声灵敏度错误。
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