IM7580阻抗分析仪

现在，为了收发大容量数据，高速差分传输等传输线也在高速发展中。为了在保证高速传输线的信号品质的同时控制干扰，使用共模滤波器或铁氧体磁珠等电子元器件，随着传输线的高速发展，这类电子元器件也向高频化发展。

而且，由于手机、手提电脑趋向于小型化，需要电源部分也向小巧的方向发展，出现DC-DC变频器的开关频率的高频化的解决方案。因此，安装在电源中的功率电感等电子零部件也向高频化发展。

生产这类电子元器件的电子元器件厂家在电子元器件的开发和出货检查中需要进行高频的测量。在出货检查中为了提高产量，需要使用能进行高速检查的测量仪器。

在这样的需求的基础上，我司研发了可进行高频、高速测量检查的阻抗分析仪。 

最高300MHz的高频测量
IM7580的测量频率为1MHz~300MHz。在以单一频率测量的LCR表的模式下，判断出货检查时的合格与否，改变频率的同时在测量的分析模式下可用于产品开发的特性评估等多种领域中。


最快0.5ms的高速测量或高稳定性的测量，有助于提高生产效率
可进行最快0.5ms（0.0005秒）的高速测量。这样，对于希望更快速的检查大批量电子元器件的电子元器件厂家来说能够大幅提高生产效率。
而且，测量的反复精度提高到以往产品的1/10，让测量更加稳定，改善了生产产量，提高了生产效率。


主机体积更小，有助于降低生产成本
在电子元器件厂家的生产线中，将各种仪器整合在机架上制作成检查系统，然后进行自动检查。因此，主机体积小的话，则检查系统也会小巧，通过安装多台仪器可以索多检查时间，从而降低生产成本。
IM7580的体积是半个机架的大小（长215mm，高200mm，厚268mm），一个机架可以安装2台。


各种各样的判断功能判断合格与否
在单一的频率测量的LCR表的模式下，有判断电子元器件合格与否的比较器功能，选择电子元器件的BIN功能。比较器功能中设置上下限值，以此为判断标准来判断是否合格。使用比较器功能是按照一个判断标准判断是否合格，而BIN功能是最多设置10个判断标准，然后进行排名。
使用多个频率测量的分析模式的话，则有可从电子零部件的频率特性中判断合格与否的区域、峰值比较功能。区域判断是确认测量值是否进入任意设置的判断区域中的功能。峰值判断是设置上限值、下限值、左限值、有限制后，判断共振点的功能。