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线性集成电路测试 |
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失调电压: |
0~60mV |
误差±5%读+2字 |
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失调电流: |
0~10μA |
误差±5%读+2字 |
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输入偏置电流: |
0~10μA |
误差±5%读+2字 |
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差模开环增益:
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60~99.9dB
100~110dB |
误差±5%读+2字
误差±7%读+2字 |
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共模抑制比:
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60~99.9dB
100~110dB |
误差±5%读+2字
误差±7%读+2字 |
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最大输出幅度: |
±4V~±24V |
误差±7%读+2字 |
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静态消耗电流: |
0~20mA |
误差±5%读+2字 |
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半导体管测试 |
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集电极电压: |
0.05V/div~50V/div |
误差 ±3% |
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二极管测试电压: |
0~3000V (配选购件) |
误差 ±5% |
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基极电压: |
0.05V~1V/ div |
误差 ±3% |
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集电极电流: |
10μA~1A/div |
误差 ±3% |
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集电极漏电流: |
0.2μA~5μA/div |
误差 ±3%~10% |
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阶梯电压: |
0.05V~1V/级 |
误差 ±3% |
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阶梯电流: |
0.2uA~50mA/级 |
误差 ±5%~7% |
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△Ub : |
±8V |
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功耗限制电阻: |
0~500KΩ |
误差 ±10% |