绝缘材料在高压下发生局部放电时,伴随有电,声,光信号的同时产生。电测量方法作为常规的局部放电测量方法,已经得到了在试验室的广泛应用。随着现场局部放电测量的普及,非常规方法(AE,UHF)已经被国际大电网接受,正在被广泛使用。IEC正在修订相应的国际标准。
由于SF6绝缘电气设备(如GIS,SF6断路器等)具有故障率低,免维护等特点,在电力系统被广泛使用。但是SF6绝缘电气设备内一旦出现缺陷,则不易查找。AE900的功能之一是专门为SF6绝缘电气设备的绝缘诊断和局放故障定位所设计,已被广泛应用于SF6绝缘电气设备的生产和使用过程中。该仪器对寻找SF6绝缘电气设备内的自由颗粒缺陷和局部放电缺陷尤其有效。
高压电缆中间接头发生局部放电故障的概率较高。对于运行中的高中压电缆,如何及时发现接头中存在的局部放电,可以及时有效的避免事故发生。AE900的功能之二是专门为电缆中间接头和终端头局部放电在线测量设计的。该仪器可以在不停电的状态下检查电缆附件的运行状态,使用方便,测量快速,不受电磁场的干扰,适用于中压电缆中间接头和终端的状态诊断和放电故障的监测,通常用于新施工的电缆附件的验收试验和运行中的电缆接头的状态诊断。
AE900型局放故障检测仪具有独特的故障专家诊断系统,随时对复杂的测量数据进行分析判断,使用者可直接得到诊断结果。当系统探测到设备存在故障时发出报警信号,然后自动判断故障类型是局放、电晕或是颗粒故障,并且帮助使用者寻找出故障源位置。有了专家诊断系统,不必再面对复杂的数字和图表而感到无从下手,让无经验的非专业人员也可以作出准确的专业故障报告。
仪器特点
测量原理
AE900型局放故障检测仪的测量原理为声发射原理(Acoustic Emission,简称AE)。在电力设备中当有局部放电发生时,会产生声发射信号。通过收集这些声音信号,并且根据实际应用经验加以分析,可以对SF6绝缘电气设备的运行状况做出某种程度的安全评估。该仪器提供可以检测声信号的幅度、频率成分,颗粒跳动的幅度和运行时间,以及跟工频频率的相关性分析。
声发射局放测量方法已列入IEC和CIGRE的标准局放测量方法中。
显示
采用大屏幕图形液晶显示,友好人机对话界面,实时显示数据及图形。
连续测量方式
以柱状图形式表示下列参数(比例尺可调):
有效值:一个工频周期中的有效值信号
周期峰值:一个工频周期中的峰值信号
频率成分1:工频周期的信号水平
频率成分2:二倍工频周期的信号水平
脉冲方式
主要用于自由颗粒的测量。颗粒每碰撞壳体一次,就发射一个宽带瞬态声脉冲,它在壳
体内来回传播。这种颗粒的声信号是颗粒端部的局放和颗粒碰撞壳体的混合信号。
相位方式
主要用于局放和电晕的测量。使用同步单元(内置)得到一个与工频有关的幅值与相位
关系图,给出有关放电或碰撞发生在工频周期的哪个位置的重要信息。用来判断是否和工频周期存在关系
SF6绝缘电气设备中的主要缺陷
SF6绝缘电气设备中的缺陷可能是在工厂制造过程产生的和/或在现场安装过程产生的,也可能是在正常运行中产生的(例如快速接地开关或断路器的操作产生的颗粒)。
如果这些缺陷是活动的(例如产生电晕或颗粒在壳体上跳动),它们会向壳体发射声信号。仪器测量这些声信号,并且根据分析由信号得到的参数对缺陷的类型进行识别。缺陷的定位是根据沿着设备壳体寻找最高信号水平的位置进行的。
SF6绝缘电气设备的缺陷是多种多样的,不同现象的测量结果不同,需要根据经验对数据进行分析判断。专家诊断系统就是针对SF6绝缘电气设备内部缺陷特点而设计,参考大量试验经验数据,随时对测量数据进行分析处理,令繁琐的数据分析判断过程完全由系统自动完成。
仪器通过专家诊断系统对数据进行分析判断,包括所采集的信号的有效值、峰值的大小,有效值与峰值的比例关系,工频的频率相关性,二倍工频的频率相关性等,判断是否存在缺陷。当系统探测到设备内存在故障时,仪器发出报警信号,然后自动判断故障类型是局放、电晕或是颗粒故障,并且根据最高信号水平位置帮助使用者寻找出故障源位置。
不同种类缺陷的主要特征
|
自由颗粒缺陷 |
电晕缺陷 |
局放缺陷 |
信号水平 |
高 |
低 |
高 |
峰值/有效值 |
高 |
低 |
高 |
工频频率相关性 |
无 |
有 |
有 |
二倍工频频率相关性 |
无 |
无 |
有 |
主要判据
- 自由颗粒产生的信号峰值,有效值比局放更高
- 自由颗粒的信号峰值具有周期性,但与工频频率无关
- 电晕信号具有较强的工频频率相关性
- 来自悬浮屏蔽和导体毛刺的局放,放电水平高,主要与二倍工频的频率相关,与工频的频率相关性小
基本配置:
1. 主机
2. 声发射传感器及其固定装置
3. 数据传输线
4. 专用信号耦合剂
5. 运输箱 |
可选配置:
1. 带10米同轴电缆的外置放大器(长度可选)
2. 电缆接头局放探测杆 |
如图所示,SF6绝缘电气设备内可能存在的缺陷类型有: