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将您的测量带扩展至检测极限。30多年来，TSI的 SMPS? 粒径谱仪已被广泛作为亚微米级和低纳米级粒径范围内测量气溶胶粒径分布的标准。在和 3777型纳米增强仪 和 3086型差分静电迁移率分析仪 (1nm-DMA)配套使用后，该仪器能够快速、高分辨率地测量粒径和数量浓度，监测工程和自然环境中1nm气溶胶颗粒的反应动力学及新颗粒的形成。
大气研究 - 该设备能够监测新粒子的形成及其动力学、云凝聚，并缩小了质谱仪与传统的粒径分布测量之间的偏差，是在高污染城市中小于3nm 粒子研究、粒子来源及健康影响研究的理想选择。
材料科学 - 该设备能够可靠、实时反馈地监测和表征小于3nm粒子,是基于气溶胶工程纳米粒子合成、纳米粒子功能化、纳米级分析化学、反应动力学的控制和催化剂的合成的理想选择。
该1nm SMPS不仅仅是另一种观察从1nm开始成核成长的检测器，而且是一种以无与伦比的分辨率显示存在于这些事件中的粒径分布的成熟粒径谱仪。
模块化的组件让您完全按照您的测量需求定制系统，节省您的时间和金钱。如果您已经拥有一台配置了3772 CPC的3938系列SMPS系统，您仅需增加1nm 差分静电迁移率分析仪（DMA）和纳米增强仪。您的分级器和高级中和器仍然保持不变，同时您将得到 最新版本AIM软件的一次免费升级 。
其它应用
基础气溶胶研究研究如火焰合成、激光烧蚀、火花生成成核/冷凝等粒子源的粒子成核和成长，燃烧和发动机排放研究（有机燃料，低于3nm的排放，天然气发动机，塑料成型和焊接）过滤研究吸入或接触室研究影响健康因素研究
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