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荧光测厚仪介绍
[ 2011/12/1 16:51:58 ] [转载请注明来源:就是要仪器网]

荧光测厚仪

荧光测厚仪结合了X射线管和高分辨率探测器,能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求.

荧光测厚仪的特征:
 1.可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度。
 2.可通过CCD摄像机来观察及选择微小面积以进行镀层厚度的测量,避免直接接触或破坏被测物。
 3.备有250个以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品。
X-Strata980X荧光镀层测厚仪就能很好的体现该特征
        X-Strata980结合了大功率X射线管和高分辨率探测器,能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。这款仪器的电制冷固态探测器确保极佳的信/躁比,从而降低检测下限。探测器分辨率极高,能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。有害元素检测结果可精确到ppm级,确保产品满足环保要求,帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。您可以针对您的应用选择最合适的分析模型:经验系数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。一旦识别出问题区域,即可对特定小点进行定量分析。大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品,大舱门使样品更易放入。
100X射线管  
25mm2PIN 探测器 
多准直器配置 
扫描分析及元素分布成像功能 
灵活运用多种分析模型 
清晰显示样品合格/不合格 
超大样品舱 
同时分析元素含量和镀层厚度 
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