代理日本日置HIOKIC测试仪3504/3504-10价格-电容测量仪-电容表原理/规格/参数

日本日置HIOKI C测试仪 3504/3504-10日本日置HIOKI C测试仪 3504/3504-10
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日本日置HIOKI C测试仪 3504/3504-10日本日置HIOKIC测试仪3504/3504-10C测试仪范围C:0.9400pF~20.0000mF D:0.00
   
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日本日置HIOKIC测试仪3504/3504-10详细介绍

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日本日置HIOKI C测试仪 3504/3504-10

封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等

  • 最多可分成14 类,能简单地根据测量值进行分类 (仅限于3504)
  • 能根据C 和D (损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断
  • 高速测量:测量频率1kHz 时2ms, 120Hz 时10ms。
  • 可选定测量电压
  • 触发同步测量

(不能单独使用,测量时需要选用测试冶具或探头)

C测试仪3504/3504-10基本参数

测量参数
Cs,Cp(电容),D(损耗系数tan)
测量范围
C:0.9400pF~20.0000mF
D:0.00001~1.99000
基本確度
(代表値)C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
※測定確度= 基本確度× B× C× D× E, B~Eは各係数
测量频率
120Hz, 1kHz
测量信号电平
恒定电压模式: 500 mV, 1 V
测量范围:
CV1V: ~ 70 μF 量程(测量频率1kHz)
CV1V: ~ 700 μF 量程(测量频率120Hz)
CV500 mV: ~ 170 μF 量程(测量频率1kHz)
CV500 mV: ~ 1.45mF 量程(测量频率120Hz)
信号电平精度 ±10% ± 5 mV
输出电阻
5Ω(CV1V, CV500mV 开路端子电压模式,上述测量范围以外)
显示
发光二级管
测量时间
典型值: 2.0 ms ( 1 kHz, FAST)
※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
機能
BIN 分选测量功能(仅限于3504), 触发同步测量, 设定测量条件保存功能, 比较器测量功能, EXT I/O输入/输出, RS-232C接口(标准), GP-IBイ接口(仅限于3504)
电源
AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, 最大110VA
体积及重量
260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
附件
电源线× 1, 电源备用保险丝× 1

(不能单独使用,测量时需要选用测试冶具或探头)
相位同期功能(特殊式样)

同时使用多台3504,可实现测试信号的相位同期。相似的试料测试时所发生的不稳定情况减少,测试状况稳定。根据需求,相位同期功能还可以对应特殊式样。

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点击小图看大图 日本日置HIOKI 3501电容值测试仪 量程300pF ~10μF 0 0

功能描述C测试仪3504/3504-10
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